Лабораторные весы серии Secura являются одним из самых надежных решений. Весы этой серии гарантируют безошибочное измерение и точность в результате выполненной работы, что незаменимо в лабораториях, где все работы производятся в соответствии со строгими нормативными требованиями.
Весы данной серии позволяют автоматически контролировать установку по уровню, минимальный вес образца, оснащены функцией полностью автоматической юстировки и калибровки с последовательной регистрацией. Для того чтобы защитить программные характеристики от возможности случайного изменения, весы серии Secura обладают функцией защиты паролем.
Преимущества:
- Прекрасное исполнение
 
- Интуитивно понятное управление
 
- Эргономичная защитная витрина
 
- Встроенная автоматическая калибровка
 
- Постоянный контроль за установкой по уровню
 
 
Технические характеристики
| МОДЕЛЬ | 
Весовая нагрузка | 
Дискретность показаний | 
 Воспроизво- 
димость  
 | 
 Время 
стабилизации 
 | 
 Размер чашки 
для взвешивания 
 | 
 Высота камеры 
взвешивания 
 | 
 Система 
взвешивания 
 | 
|   | 
г | 
мг | 
мг | 
с | 
мм  | 
мм | 
EMC | 
| SECURA26-1x | 
21 | 
0,002 | 
0,004 | 
≤ 6.0 | 
Ø 50 | 
218 | 
EMC | 
Полумикровесы
| МОДЕЛЬ | 
Весовая нагрузка | 
Дискретность показаний | 
 Воспроизво- 
димость  
 | 
 Время 
стабилизации 
 | 
 Размер чашки 
для взвешивания 
 | 
 Высота камеры 
взвешивания 
 | 
 Система 
взвешивания 
 | 
|   | 
г | 
мг | 
мг | 
с | 
мм  | 
мм | 
EMC | 
| SECURA125-1x | 
120 | 
0,01 | 
0,03 | 
≤ 4,0 | 
Ø 80 | 
218 | 
EMC | 
| SECURA225D-1x | 
120 | 220 | 
0,01 | 0,1 | 
0,03 | 0,07 | 
≤ 4,0 | 1,5 | 
Ø 80 | 
218 | 
EMC | 
Аналитические весы
| МОДЕЛЬ | 
Весовая нагрузка | 
Дискретность показаний | 
 Воспроизво- 
димость  
 | 
 Время 
стабилизации 
 | 
 Размер чашки 
для взвешивания 
 | 
 Высота камеры 
взвешивания 
 | 
 Система 
взвешивания 
 | 
|   | 
г | 
мг | 
мг | 
с | 
мм  | 
мм | 
EMC | 
| SECURA124-1x | 
120 | 
0,1 | 
0,1 | 
≤ 1,5 | 
Ø 90 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA224-1x | 
220 | 
0,1 | 
0,1 | 
≤ 1,5 | 
Ø 90 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA324-1x | 
320 | 
0,1 | 
0,1 | 
≤ 1,5 | 
Ø 90 | 
218 | 
EMC | 
Миллиграммовые весы 
| МОДЕЛЬ | 
Весовая нагрузка | 
Дискретность показаний | 
 Воспроизво- 
димость  
 | 
 Время 
стабилизации 
 | 
 Размер чашки 
для взвешивания 
 | 
 Высота камеры 
взвешивания 
 | 
 Система 
взвешивания 
 | 
|   | 
г | 
мг | 
мг | 
с | 
мм  | 
мм | 
EMC | 
| SECURA213-1x | 
210 | 
1 | 
1 | 
≤ 1,0 | 
Ø 120 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA313-1x | 
310 | 
1 | 
1 | 
≤ 1,0 | 
Ø 120 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA513-1x | 
510 | 
1 | 
1 | 
≤ 1,0 | 
Ø 120 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA613-1x | 
610 | 
1 | 
1 | 
≤ 1,0 | 
Ø 120 | 
209 | 
EMC | 
| SECURA1103-1x | 
1,100 | 
1 | 
1 | 
≤ 1,0 | 
Ø 120 | 
209 | 
EMC | 
Прецизионные весы
| МОДЕЛЬ | 
Весовая нагрузка | 
Дискретность показаний | 
 Воспроизво- 
димость  
 | 
 Время 
стабилизации 
 | 
 Размер чашки 
для взвешивания 
 | 
 Высота камеры 
взвешивания 
 | 
 Система 
взвешивания 
 | 
|   | 
г | 
мг | 
мг | 
с | 
мм  | 
мм | 
EMC | 
| SECURA612-1x | 
610 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA1102-1x | 
1,100 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA2102-1x | 
2,100 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA3102-1x | 
3,100 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA5102-1x | 
5,100 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA6102-1x | 
6,100 | 
10 | 
10 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA3101-1x | 
3,100 | 
100 | 
50 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
| SECURA6101-1x | 
6,100 | 
100 | 
50 | 
≤ 0,9 | 
Ø 180 | 
- | 
EMC | 
 
Высокая производительность РФЭС благодаря стандартным функциям:
Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения
Оптимизированная электронная оптика
Просмотр образцов
Анализ изоляторов
Цифровое управление
Модуль нагревателя образцов NX
Опциональные методики: Добавьте к вашему анализу любой из интегрированных и полностью автоматизированных методов. Запуск одним нажатием кнопки.
ISS: Спектроскопия рассеяния ионов - это метод, при котором пучок ионов рассеивается поверхностью
UPS: Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия относится к измерению спектров кинетической энергии фотоэлектронов, испускаемых молекулами, которые поглотили ультрафиолетовые фотоны, с целью определения энергии молекулярных орбиталей в валентной области
Раман: Спектроскопический метод, используемый в химии для получения структурного отпечатка пальца
REELS: Спектроскопия потерь энергии электронов при отражении
Режим SnapMap
Сфокусируйте объекты на образце с помощью оптического представления SnapMap. Оптическое представление помогает быстро выделить интересующие области при создании сфокусированного XPS-изображения для дальнейшей детализации вашего эксперимента.
1. Рентгеновские лучи освещают небольшую область на образце.
2. Фотоэлектроны с этой небольшой области собираются и фокусируются в анализаторе
3. Спектры непрерывно регистрируются по мере перемещения платформы
4. Положение платформы отслеживается на протяжении всего сбора данных, позиции используются для создания моментальной карты
Области применения:
- источники питания (батареи);
- биоповерхности;
- катализаторы;
- керамика;
- стеклянные покрытия;
- графен;
- металлы и оксиды;
- наноматериалы;
- OLED-дисплеи;
- полимеры;
- полупроводники;
- cолнечные элементы;
- тонкие пленки.