Лабораторные весы серии Secura являются одним из самых надежных решений. Весы этой серии гарантируют безошибочное измерение и точность в результате выполненной работы, что незаменимо в лабораториях, где все работы производятся в соответствии со строгими нормативными требованиями.
Весы данной серии позволяют автоматически контролировать установку по уровню, минимальный вес образца, оснащены функцией полностью автоматической юстировки и калибровки с последовательной регистрацией. Для того чтобы защитить программные характеристики от возможности случайного изменения, весы серии Secura обладают функцией защиты паролем.
Преимущества:
- Прекрасное исполнение
- Интуитивно понятное управление
- Эргономичная защитная витрина
- Встроенная автоматическая калибровка
- Постоянный контроль за установкой по уровню
Технические характеристики
МОДЕЛЬ |
Весовая нагрузка |
Дискретность показаний |
Воспроизво-
димость
|
Время
стабилизации
|
Размер чашки
для взвешивания
|
Высота камеры
взвешивания
|
Система
взвешивания
|
|
г |
мг |
мг |
с |
мм |
мм |
EMC |
SECURA26-1x |
21 |
0,002 |
0,004 |
≤ 6.0 |
Ø 50 |
218 |
EMC |
Полумикровесы
МОДЕЛЬ |
Весовая нагрузка |
Дискретность показаний |
Воспроизво-
димость
|
Время
стабилизации
|
Размер чашки
для взвешивания
|
Высота камеры
взвешивания
|
Система
взвешивания
|
|
г |
мг |
мг |
с |
мм |
мм |
EMC |
SECURA125-1x |
120 |
0,01 |
0,03 |
≤ 4,0 |
Ø 80 |
218 |
EMC |
SECURA225D-1x |
120 | 220 |
0,01 | 0,1 |
0,03 | 0,07 |
≤ 4,0 | 1,5 |
Ø 80 |
218 |
EMC |
Аналитические весы
МОДЕЛЬ |
Весовая нагрузка |
Дискретность показаний |
Воспроизво-
димость
|
Время
стабилизации
|
Размер чашки
для взвешивания
|
Высота камеры
взвешивания
|
Система
взвешивания
|
|
г |
мг |
мг |
с |
мм |
мм |
EMC |
SECURA124-1x |
120 |
0,1 |
0,1 |
≤ 1,5 |
Ø 90 |
209 |
EMC |
SECURA224-1x |
220 |
0,1 |
0,1 |
≤ 1,5 |
Ø 90 |
209 |
EMC |
SECURA324-1x |
320 |
0,1 |
0,1 |
≤ 1,5 |
Ø 90 |
218 |
EMC |
Миллиграммовые весы
МОДЕЛЬ |
Весовая нагрузка |
Дискретность показаний |
Воспроизво-
димость
|
Время
стабилизации
|
Размер чашки
для взвешивания
|
Высота камеры
взвешивания
|
Система
взвешивания
|
|
г |
мг |
мг |
с |
мм |
мм |
EMC |
SECURA213-1x |
210 |
1 |
1 |
≤ 1,0 |
Ø 120 |
209 |
EMC |
SECURA313-1x |
310 |
1 |
1 |
≤ 1,0 |
Ø 120 |
209 |
EMC |
SECURA513-1x |
510 |
1 |
1 |
≤ 1,0 |
Ø 120 |
209 |
EMC |
SECURA613-1x |
610 |
1 |
1 |
≤ 1,0 |
Ø 120 |
209 |
EMC |
SECURA1103-1x |
1,100 |
1 |
1 |
≤ 1,0 |
Ø 120 |
209 |
EMC |
Прецизионные весы
МОДЕЛЬ |
Весовая нагрузка |
Дискретность показаний |
Воспроизво-
димость
|
Время
стабилизации
|
Размер чашки
для взвешивания
|
Высота камеры
взвешивания
|
Система
взвешивания
|
|
г |
мг |
мг |
с |
мм |
мм |
EMC |
SECURA612-1x |
610 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA1102-1x |
1,100 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA2102-1x |
2,100 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA3102-1x |
3,100 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA5102-1x |
5,100 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA6102-1x |
6,100 |
10 |
10 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA3101-1x |
3,100 |
100 |
50 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
SECURA6101-1x |
6,100 |
100 |
50 |
≤ 0,9 |
Ø 180 |
- |
EMC |
Высокая производительность РФЭС благодаря стандартным функциям:
Высокопроизводительный источник рентгеновского излучения
Оптимизированная электронная оптика
Просмотр образцов
Анализ изоляторов
Цифровое управление
Модуль нагревателя образцов NX
Опциональные методики: Добавьте к вашему анализу любой из интегрированных и полностью автоматизированных методов. Запуск одним нажатием кнопки.
ISS: Спектроскопия рассеяния ионов - это метод, при котором пучок ионов рассеивается поверхностью
UPS: Ультрафиолетовая фотоэлектронная спектроскопия относится к измерению спектров кинетической энергии фотоэлектронов, испускаемых молекулами, которые поглотили ультрафиолетовые фотоны, с целью определения энергии молекулярных орбиталей в валентной области
Раман: Спектроскопический метод, используемый в химии для получения структурного отпечатка пальца
REELS: Спектроскопия потерь энергии электронов при отражении
Режим SnapMap
Сфокусируйте объекты на образце с помощью оптического представления SnapMap. Оптическое представление помогает быстро выделить интересующие области при создании сфокусированного XPS-изображения для дальнейшей детализации вашего эксперимента.
1. Рентгеновские лучи освещают небольшую область на образце.
2. Фотоэлектроны с этой небольшой области собираются и фокусируются в анализаторе
3. Спектры непрерывно регистрируются по мере перемещения платформы
4. Положение платформы отслеживается на протяжении всего сбора данных, позиции используются для создания моментальной карты
Области применения:
- источники питания (батареи);
- биоповерхности;
- катализаторы;
- керамика;
- стеклянные покрытия;
- графен;
- металлы и оксиды;
- наноматериалы;
- OLED-дисплеи;
- полимеры;
- полупроводники;
- cолнечные элементы;
- тонкие пленки.